ESPECTROFOTÓMETRO UV/VIS de doble haz serie NU-T1810D/NU-T1810DA/NU-T1810DS
ESPECTROFOTÓMETRO UV/VIS de doble haz serie NU-T1810D/NU-T1810DA/NU-T1810DS

ESPECTROFOTÓMETRO UV/VIS de doble haz serie NU-T1810D/NU-T1810DA/NU-T1810DS

Marca:NANBEI

Modelo:NU-T1810D/NU-T1810DA/NU-T1810DS

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Detalles de producto

ESPECTROFOTÓMETRO UV/VIS de doble haz serie NT1810D


Características de los productos

● Alta precisión: utiliza un tornillo de precisión de nivel de micrómetro de rejilla para garantizar la precisión de la longitud de onda <±0,3 nm; la transmitancia de la precisión alcanza el ±0,3 %.

● Comodidad de uso: pantalla LCD gráfica de 5,7 pulgadas. La curva de espectro es clara de un vistazo y fácil de operar. Hay análisis cuantitativo, análisis cualitativo, prueba cinética, ADN/ARN, análisis de múltiples longitudes de onda en un programa de prueba de propósito especial.

● Vida útil duradera: la lámpara halógena importada garantiza una fuente de luz de hasta dos años de vida útil y una vida útil del receptor de 20 años.

● Amplios campos de aplicación: Opcional Equipado con unidad Peltier/sipper, con soporte de microcelda, con accesorio de medición de reflectancia (ángulo de incidencia de 5°), etc., amplía las áreas de aplicación de más.

 

Función de los productos

●Medición fotométrica: Conveniencia para medir muestras en la absorbancia y transmitancia de longitud de onda especificada. El detector de longitud de onda múltiple es la determinación simultánea máxima de 10 longitudes de onda.

●Medición cuantitativa: Establece automáticamente la curva estándar, de primer orden



Model NU-T1810D NU-T1810DA NU-T1810DS
Optical System Double Beam, Grating 1200 line/mm
Wavelength Range 190~1100nm
Spectral Bandwidth 1.8nm 1nm 0.5/1/2/4/5nm
Wavelength Accuracy ±0.3nm
Wavelength Repeatability ±0.1nm
Photometric Accuracy ±0.3%T;±0.0015Abs(0~0.5Abs);±0.003(0.5-1.0Abs);
Photometric Repeatability ±0.1%T;±0.001Abs(0~0.5Abs);±0.002(0.5-1.0Abs);
Stray Light ≤0.03%T, @220nm/360nm
Noise Level ±0.0008Abs
Stability ±0.0008A/h@500nm
Baseline Flatness ±0.0008Abs
Baseline Dark Noise 0.05%T


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